D8 X射線衍射儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì),通過(guò)TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì),成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換,而無(wú)需對(duì)光。

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2025-04-10

廠商性質(zhì)：代理商

訪問(wèn)量：3739

產(chǎn)品咨詢(xún) 17621138977

產(chǎn)品分類(lèi)

PRODUCT CLASSIFICATION

三維X射線顯微鏡（XRM）

X射線全自動(dòng)化單晶定向儀 D6 Phaser SKYSCAN 2214 CMOS版 D8 X射線衍射儀

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D8 X射線衍射儀檢測(cè)樣品時(shí)有哪些要求?

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產(chǎn)品：布魯克D8達(dá)芬奇X射線衍射儀

型號(hào)：D8Advance

產(chǎn)地：德國(guó)

布魯克AXS公司全新的D8ADVANCEX射線衍射儀,采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì),通過(guò)TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì),成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換,而無(wú)需對(duì)光。通過(guò)革命性的TWISTTUBE技術(shù),使用戶(hù)可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用(常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到點(diǎn)光源應(yīng)用(織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū))的切換,讓煩人的光路互換、重新對(duì)光等問(wèn)題從此成為歷史!

衍射儀

高精度的測(cè)角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個(gè)衍射峰(注意不是一個(gè)衍射峰)的測(cè)量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過(guò)0.01度,布魯克AXS公司提供保證!

*的林克斯陣列探測(cè)器可以提高強(qiáng)度150倍,不僅答復(fù)提高設(shè)備的使用效率,而且大幅提高了設(shè)備的探測(cè)靈敏度。

主要應(yīng)用：

1、物相定性分析

2、結(jié)晶度及非晶相含量分析

3、結(jié)構(gòu)精修及解析

4、物相定量分析

5、點(diǎn)陣參數(shù)精確測(cè)量

6、無(wú)標(biāo)樣定量分析

7、微觀應(yīng)變分析

8、晶粒尺寸分析

9、原位分析

10、殘余應(yīng)力

11、低角度介孔材料測(cè)量

12、織構(gòu)及ODF分析

13、薄膜掠入射

14、薄膜反射率測(cè)量

15、小角散射

技術(shù)指標(biāo):

Theta/theta立式測(cè)角儀

2Theta角度范圍:-110～168°

角度精度:0.0001度

Cr/Co/Cu靶,標(biāo)準(zhǔn)尺寸光管

探測(cè)器:林克斯陣列探測(cè)器、林克斯XE陣列探測(cè)器

儀器尺寸:1868x1300x1135mm

重量:770kg

TWIN / TWIN 光路

布魯克獲得專(zhuān)屬發(fā)明的TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)極大地簡(jiǎn)化了D8 ADVANCE的操作，使之適用于多種應(yīng)用和樣品類(lèi)型。為便于用戶(hù)使用，該系統(tǒng)可在4種不同的光束幾何之間進(jìn)行自動(dòng)切換。該系統(tǒng)無(wú)需人工干預(yù)，即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進(jìn)行切換，且無(wú)需人工干預(yù)，是在環(huán)境下和非環(huán)境下對(duì)包括粉末、塊狀物體、纖維、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在內(nèi)的所有類(lèi)型的樣品進(jìn)行分析的理想選擇。

X射線衍射儀（XRD）D8 ADVANCE

動(dòng)態(tài)光束優(yōu)化（DBO）

布魯克獨(dú)_有的DBO功能為X射線衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹(shù)立了全新的重要基準(zhǔn)。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)發(fā)散狹縫、防散射屏和可變探測(cè)器窗口的自動(dòng)同步功能，可為您提供無(wú)可_替代的數(shù)據(jù)質(zhì)量——尤其是在低2?角度時(shí)。除此之外，LYNXEYE全系列探測(cè)器均支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。

動(dòng)態(tài)光束優(yōu)化（DBO）

LYNXEYE XE-T

LYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探測(cè)器的旗艦產(chǎn)品。它是目前市面上只有這一個(gè)一款可采集0D、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測(cè)器，適用于所有波長(zhǎng)（從Cr到Ag），具有頂點(diǎn)的計(jì)數(shù)率和更好的角分辨率，是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇。

LYNXEYE XE-T具有優(yōu)于380 eV的能量分辨率，著實(shí)出色，是市面上性能更好的熒光過(guò)濾器探測(cè)器系統(tǒng)。借助它，您可在零強(qiáng)度損失下對(duì)由激發(fā)的鐵熒光進(jìn)行100％過(guò)濾，而且無(wú)需金屬濾波片，因此數(shù)據(jù)也不會(huì)存在偽影，如殘余Kß和吸收邊。同樣，也無(wú)需用到會(huì)除去強(qiáng)度的二級(jí)單色器。

LYNXEYE XE-T

XRPD方法：

· 鑒別晶相和非晶相，并測(cè)定樣品純度

· 對(duì)多相混合物的晶相和非晶相進(jìn)行定量分析

· 微觀結(jié)構(gòu)分析（微晶尺寸、微應(yīng)變、無(wú)序…）

· 熱處理或加工制造組件產(chǎn)生的大量殘余應(yīng)力

· 織構(gòu)（擇優(yōu)取向）分析

· 指標(biāo)化、從頭晶體結(jié)構(gòu)測(cè)定和晶體結(jié)構(gòu)精修

對(duì)分布函數(shù)分析

對(duì)分布函數(shù)（PDF）分析是一種分析技術(shù)，它基于Bragg以及漫散射（“總散射”），提供無(wú)序材料的結(jié)構(gòu)信息。其中，您可以通過(guò)Bragg衍射峰，了解材料的平均晶體結(jié)構(gòu)的信息（即長(zhǎng)程有序），通過(guò)漫散射，表征其局部結(jié)構(gòu)（即短程有序）。

就分析速度、數(shù)據(jù)質(zhì)量以及對(duì)非晶、弱晶型、納米晶或納米結(jié)構(gòu)材料的分析結(jié)果而言，D8 ADVANCE和TOPAS軟件替代了市面上性能更好的PDF分析解決方案：

· 相鑒定

· 結(jié)構(gòu)測(cè)定和精修

· 納米粒度和形狀

薄膜和涂層

薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同，不過(guò)進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度操控功能。典型示例包括但不限于相鑒定、晶體質(zhì)量、殘余應(yīng)力、織構(gòu)分析、厚度測(cè)定以及組分與應(yīng)變分析。在對(duì)薄膜和涂層進(jìn)行分析時(shí)，著重對(duì)厚度在nm和µm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長(zhǎng)薄膜）。

D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析：

· 掠入射衍射

· X射線反射法

· 高分辨率X射線衍射

· 倒易空間掃描